西安易恩电气科技有限公司推出大功率半导体图示仪ENJ2005-C，这是易恩电气继ENJ2005-B之后又推出的一款高端图示，数显半导体测试设备，是美国泰克370B,泰克371A完美的替代者。ENJ2005-C能测试包含所有半导体的静态参数， 易恩ENJ2005-C系列半导体分立器件测试系统功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点，各项技术指标均达到国际领先水平。半导体管图示系统，更是突破图示仪的局限，基于PC机显示曲线图形，同时具有静态参数测试系统的功能。产品被广泛应用于军工、汽车、飞机、船舶制造、能源等领域。进过多年努力，雄厚的技术实力，多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使易恩电气ENJ系列测试系统性能更加超群，品质更为卓越。公司大胆创新，现已获得多项发明专利。同时，为给客户提供规范的服务，公司建立了完善的产品与服务质量管理体系，先后通过ISO9001，2000国际质量体系认证。

下面是易恩电气技术人员在ENJ2005-C环境下，针对MOSFET HY1808进行的测试曲线：

 mosfet（n-channel）（金属-氧化物-半导体 场效应管）