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半导体分立器件测试系统ENJ2005-B在广州某半导体器件厂上线运行

2020年05月上旬,我公司自主研发的半导体分立器件测试系统ENJ2005-B在广州某半导体器件厂上线运行。

ENJ2005-B是我公司的一款标准设备,测试范围广,升级扩展性强,通过选件可提升电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

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